最新公告
分析测试中心分析仪器XPS、XRD、SEM和ICP-MS即将投入使用
发布时间:2022-03-28     作者:     文章来源:分析测试中心     浏览量:1705   分享到:

    为研究院科研生产提供优质的测试服务,是分析测试中心全体人员的初心和使命。为进一步提升分析测试中心服务能力和水平,中心购进扫描电镜(SEM)、X射线粉末衍射仪(XRD)、X光电能谱仪(XPS)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)四台大型精密分析仪器。

    目前这四台大型精密分析仪器正在安装调试,即将全部投入使用,以下是仪器简介,欢迎研究院同事来分析测试中心测试并提供宝贵意见和建议!


    1.X射线光电子能谱(XPS

    仪器设备:X射线光电子能谱(XPS),日本/ULVAC-PHI,Inc,型号PHI5000 VersaProbe IV

    应用范围:仪器能实现材料表面几个原子层(1-10纳米厚的表面)的化学组成、价态,深度剖析及成像等综合分析与表征技术的研究,被广泛应用于分析无机化合物、合金、有机高分子化合物、能源电池材料、催化材料等,表征表面成分,表面缺陷(腐蚀,异物,污染,分布不均等),表面多层薄膜等,对于各种材料开发,材料剖析与失效机理的分析和研究具有不可替代的作用。

    功能配置:UPS(紫外光电子能谱)、荷电中和系统、氩团簇离子枪,XPS成像、全自动五轴样品台、冷热样品台。


    2.X射线衍射仪(XRD

    仪器设备:X射线衍射仪(XRD,德国Bruker,型号D8 ADVANCE

    应用范围:广泛应用于物理、化学、药物学、冶金学、高分子材料、生命科学及材料科学。可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料、超晶格材料和磁性材料的物相检索、物相定量分析、晶粒尺寸分析、结构精修、从头结构解析、无标样定量分析。材料可以是单晶体、多晶体、纤维、薄膜等片状、块状、粉末状固体。

    功能配置:原位电池附件(XRD-BAT),中低温样品台(TTK600)。

    3.场发射扫描电镜(SEM

    仪器设备:场发射扫描电镜(SEM,日本电子株式会社,型号JSM-IT800。

    应用范围:主要用于非均相有机材料、无机材料的微观形貌的高分辨观察,微区成分分析,广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。

    功能配置:能谱仪系统:牛津,型号为 UltimMax 65


    4.电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS

    仪器设备:电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS,安捷伦,型号7900。

    应用范围:主要进行各种样品的痕量元素的检测,包括元素分析、同位素分析和元素形态分析,在核工业、地质学、医药及生理分析、法医鉴定、环境监测、半导体行业、生产过程质量控制领域广泛应用。

    功能配置:碰撞模式反应模式、有机体系、无机体系、氢氟酸体系。